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厦门纪扬科技有限公司是一家以工业自动化为主营，融科、工、贸于一体，

专业从*工业自动化工程项目设计、安装、调试等服务和*销售各类进口**

电气及自动化产品的民营高新技术企业。综合型的工程技术服务型单位，是

国内专业的电气产品分销商及工业自动化系统集成商。

主营：世界知名品牌的PLC 、DCS 系统备件 模块

①Allen-Bradley(美国AB)系列产品》

②Schneider(施耐德电气)系列产品》

③General electric(通用电气)系列产品》

④Westinghouse（美国西屋）系列产品》

⑤SIEMENS(西门子系列产品)》

⑥销售ABB Robots. FANUC Robots、YASKAWA Robots、KUKA Robots、Mitsubishi Robots、OTC Robots、Panasonic Robots、MOTOMAN Robots。

⑦estinghouse（西屋）： OVATION系统、WDPF系统、MAX1000系统备件。

⑧Invensys Foxboro（福克斯波罗）：I/A Series系统，FBM（现场输入/输出模块）顺序控制、梯形 逻辑控制、事故追忆处理、数模转换、输入/输出信号处理、数据通信及处理等。Invensys Triconex: 冗余容错控制系统、基于三重模件冗余（TMR）结构的zui现代化的容错控制器。

⑨Siemens(西门子)：Siemens MOORE， Siemens Simatic C1，Siemens数控系统等。

⑩Bosch Rexroth（博世力士乐）：Indramat，I/O模块,PLC控制器,驱动模块等。

◆Motorola（摩托罗拉）：MVME 162、MVME 167、MVME1772、MVME177等系列。

Cummins    LF9009    Oil filter

 
HITACHI Hitachi 8840 Metrology CD Measurement CD-SEM
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Hitachi HL7000M E-Beam Litho (6 inch mask)
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HITACHI IS2700SE Dark Field inspection
HITACHI IS3000SE E-beam wafer inspection
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HITACHI LS9000 Wafer Surface Inspection 
HITACHI N-6000 NANO PROBER
HITACHI NB-5000 FIB Sem
HITACHI RS 4000 Defect Review SEM
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Hitachi S4500 Type I FE SEM
HITACHI S4700-l Scanning Electron Microscope
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Hitachi S-6280H CD SEM
Hitachi S-7840 High Resolution Imaging and CD-SEM
Hitachi S-8840 CD SEM - For spares use
Hitachi S-9220 CD Measurement SEM
Hitachi S-9220 Critical Dimension (CD) Measurement Scanning Electron Microscope
Hitachi S-9260A CD Measurement SEM
Hitachi S-9300 High Resolution CD-SEM Fully Refurbished and Operational
HITACHI S4700-ll FE Sem with Horriba EMAX EDX
HMI eScan 400 E-beam Defect Inspection 
Horiba PD3000 Reticle Inspection
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Horiba UVISEL2 Ellipsometer
HP 4145B CV Measurement
HP / Agilent 4062 Automated Test equipment
HP / Agilent 54601A Oscilloscope, 4 Channel 100 MHz
HSEB LightSPEED Particle Measurement
HSEBDresden GMBH / Carl Zeis LightSPEED Particle Measurement
HTC HTC 8010 Box Washer
HYBOND 616-001 Ultrasonic Peg Bonder
HYPERFLOW CENTURA WET Wafer Carrier Boat Wash System
HYPERVISION Visionary 2 Emmission Microscope with Karl Suss PM-8 Analytical Prober
Inficon QUADREX 200 Residual Gas Analyzer
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Innolas 2000DPS Wafer marker
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INVALID[Vistec Semiconductor Systems] SB254 E-beam Lithography System
IPEC 372M Multi-Process CMP
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J.A Woollam VUV-VASE (Gen II) Ellipsometer