99成都ICT测试治具测针的好坏也是造成开路的因素之一
99成都ICT测试治具测针的好坏也是造成开路的因素之一
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    商品详情
      BSBY_f001

      过锡炉治具第一品牌【王氏天茂,王先生,4000-998-538】我们的目标宗旨是:成为EMS电子制造企业身边最有价值的合作伙伴!

        L型探针:ICT测试治具测针的好坏也是造成开路的重要因素之一,测针主要表现为针尖钝化、针与针插头接触不良以及定期校针(至少1次/周)。

        当测针钝化时一定要更换测针,换针后切记对其使用次数清零,随时检查针与针头之间是否松动,保证每星期对ICT测试治具测针自动校正至少一次。

        新文件工艺数据在第一次生成时出错,这也是造成开路的原因所在,很多工艺人员在CAM数据转换时,生成的网络图文件出错。

        大部分情况属于各层、面的孔或焊盘属性不一致,因此ICT测试治具一旦出现时则要求工艺人员反复对数据文件进行复查。

      公司名称:深圳市王氏天茂科技有限公司
      ICT测试治具:http://wstm88.com 
      负责人:王先生 
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